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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES, Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS, Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie.
Language: German
Published by Berlin ; Heidelberg ; New York ; Tokyo : Springer, 1986
ISBN 10: 3540150501 ISBN 13: 9783540150503
Seller: books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Germany
Seller rating 5 out of 5 stars
gebundene Ausgabe. Condition: Gut. VIII, 300 S. : 154 Ill. u. graph. Darst. ; 25 cm Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 680.
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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS (Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie), AES (Auger-Elektronen-Spektrometrie), XPS (Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie).
Language: German
Published by Springer, Berlin, u.a. :, 1986
ISBN 10: 3540150501 ISBN 13: 9783540150503
Seller: Gebrauchtbücherlogistik H.J. Lauterbach, Gummersbach, NRW, Germany
Seller rating 5 out of 5 stars
Hardcover. Condition: Gut. 25cm; VIII.; 300; Hardcover. Zustand: Sehr Gut, eher ungelesen (Innen); Besitzerstempel; Einband (Außen) hat min. bis geringe Gebrauchsspuren; Schutzumschlag fehlt, oder es gibt keinen; * Die Photos sind original von uns erstellt worden, u.a. erkennbar an einem kleinen weißen Stück Papier im oberen Schnitt. Ab und an verwenden Suchmaschinen Verlagsphotos, bei den Portalen selbst, werden aber nur unsere Originalphotos gezeigt.
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Hardcover. 300 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Bib.-Signatur und Stempel in GUTEM Zustand. Kaum Gebrauchsspuren. 3055000595 Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 550.
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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS.
Published by Akademie - Verlag. Berlin. 1986., 1986
ISBN 10: 3055000595 ISBN 13: 9783055000591
Hardcover. Condition: sehr gut. 3. Aufl. Originalpappband, 300 Seiten, 24,5 cm x 17,5 cm, mit 152 Abbildungen und 29 Tafeln, leicht angestaubt, Ecken und Kanten sowie Einband insgesamt leicht berieben und leicht gestaucht, so sehr gutes Exemplar in deutscher Sprache.
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Angewandte Oberfl?chenanalyse Mit Sims, AES Und XPS
Seller: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, United Kingdom
Seller rating 5 out of 5 stars
HRD. Condition: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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HRD. Condition: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Angewandte Oberflächenanalyse Mit Sims, Aes Und Xps -Language: German
Seller: GreatBookPricesUK, Woodford Green, United Kingdom
Seller rating 5 out of 5 stars
£ 117.29
£ 15 shipping
Ships from United Kingdom to U.S.A.Quantity: Over 20 available
Add to basketCondition: New.
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Condition: new.
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Condition: As New. Unread book in perfect condition.
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Angewandte Oberflächenanalyse Mit Sims, Aes Und Xps -Language: German
Seller: GreatBookPricesUK, Woodford Green, United Kingdom
Seller rating 5 out of 5 stars
£ 136.62
£ 15 shipping
Ships from United Kingdom to U.S.A.Quantity: Over 20 available
Add to basketCondition: As New. Unread book in perfect condition.
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Hardcover. Condition: Brand New. reprint edition. 312 pages. German language. 6.69x0.75x9.61 inches. In Stock.
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Buch. Condition: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Keine ausführliche Beschreibung für 'Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS' verfügbar.
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Condition: New. 1986. Reprint 2025 ed. hardcover. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Angewandte Oberfl?chenanalyse Mit Sims, AES Und XPS
Seller: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Ireland
Seller rating 5 out of 5 stars
Condition: New. 1986. Reprint 2025 ed. hardcover. . . . . .
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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS
Language: German
Published by De Gruyter, De Gruyter Jan 1987, 1987
ISBN 10: 3112702662 ISBN 13: 9783112702666
Seller: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germany
Seller rating 5 out of 5 stars
Buch. Condition: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Keine ausführliche Beschreibung für 'Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS' verfügbar. 312 pp. Deutsch.
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Condition: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt.
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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS
Language: German
Published by De Gruyter, De Gruyter Jan 1987, 1987
ISBN 10: 3112702662 ISBN 13: 9783112702666
Seller: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germany
Seller rating 5 out of 5 stars
Buch. Condition: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Keine ausführliche Beschreibung für 'Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS' verfügbar. 312 pp. Deutsch.
