Language: English
Published by Cambridge, Cambridge Univ.Press, 2003
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Hardcover. Condition: Sehr gut. 540 S., with figures, 28 cm, Very good condition. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1840.
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Language: English
Published by Cambridge : University Press,, 2003
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Pappband. Condition: Gut. xxvi, 540 S., zahlr. s/w Abb. und graph. Darst., 28,5 cm Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie. 31th Conference. Dresden, Germany. September 7-12, 2003. / (= Microscopy and Microanalysis ; Volume 9, Supplement 3, 2003) / In englischer Sprache. / Lese- und Lagerspuren. Einband etwas angestoßen und berieben. Schnitt etwas angestaubt. Gutes Exemplar (Fol.) Fol. ISBN 1431927620039 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 2000.
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Seller: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
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Seller: California Books, Miami, FL, U.S.A.
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Seller: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
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Condition: New. pp. 368.
Condition: New. pp. 368 238 Illus. (33 Col.).
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Language: English
Published by Springer Netherlands, 2016
ISBN 10: 9401779880 ISBN 13: 9789401779883
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Language: English
Published by Springer Netherlands, 2014
ISBN 10: 9401786003 ISBN 13: 9789401786003
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Language: English
Published by Springer Netherlands, Springer Netherlands Aug 2016, 2016
ISBN 10: 9401779880 ISBN 13: 9789401779883
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Taschenbuch. Condition: Neu. Neuware -This work is based on experiences acquired by the authors regarding often asked questions and problems during manifold education of beginners in analytical transmission electron microscopy. These experiences are summarised illustratively in this textbook. Explanations based on simple models and hints for the practical work are the focal points.This practically- oriented textbook represents a clear and comprehensible introduction for all persons who want to use a transmission electron microscope in practice but who are not specially qualified electron microscopists up to now.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 368 pp. Englisch.
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Paperback. Condition: Brand New. reprint edition. 368 pages. 9.25x6.10x0.87 inches. In Stock.
Language: English
Published by Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2016
ISBN 10: 9401779880 ISBN 13: 9789401779883
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Taschenbuch. Condition: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This work is based on experiences acquired by the authors regarding often asked questions and problems during manifold education of beginners in analytical transmission electron microscopy. These experiences are summarised illustratively in this textbook. Explanations based on simple models and hints for the practical work are the focal points.This practically- oriented textbook represents a clear and comprehensible introduction for all persons who want to use a transmission electron microscope in practice but who are not specially qualified electron microscopists up to now.
Language: English
Published by Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2014
ISBN 10: 9401786003 ISBN 13: 9789401786003
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Buch. Condition: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This work is based on experiences acquired by the authors regarding often asked questions and problems during manifold education of beginners in analytical transmission electron microscopy. These experiences are summarised illustratively in this textbook. Explanations based on simple models and hints for the practical work are the focal points.This practically- oriented textbook represents a clear and comprehensible introduction for all persons who want to use a transmission electron microscope in practice but who are not specially qualified electron microscopists up to now.
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Language: German
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ISBN 10: 3662667223 ISBN 13: 9783662667224
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Paperback. Condition: Brand New. 2nd edition. 411 pages. German language. 9.25x6.10x0.84 inches. In Stock.
Language: German
Published by Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Feb 2024, 2024
ISBN 10: 3662667223 ISBN 13: 9783662667224
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Taschenbuch. Condition: Neu. Neuware -Das Buch wendet sich an alle, egal ob im Studium, in technischen Berufen, oder in der Wissenschaft, die die sich für die analytische Transmissionselektronenmikroskopie interessieren und einen Überblick über diese Methode erhalten möchten. Insbesondere betrifft dies Personen, die an einem Transmissionselektronenmikroskop arbeiten wollen oder müssen, die aber noch keine spezielle elektronenmikroskopische Ausbildung durchlaufen haben. Das Buch basiert auf den Erfahrungen der Autoren bei der Unterrichtung von Studierenden, Promovierenden und in technischen Berufen Tätigen. Der Überblick über die analytische Transmissionselektronenmikroskopie umfasst die Schwerpunkte Optische Abbildung, Elektronenwellen, magnetische Linsen, Abbildungsfehler, Aufbau eines Transmissionselektronenmikroskops, Präparation dünner Proben, Justage des Mikroskops, Elektronenbeugung, Kontrastentstehung, Höchstauflösungselektronenmikroskopie, Rastertransmissionselektronenmikroskopie sowie Analytik mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie und Elektronenenergieverlust-Spektroskopie. Ein mathematischer Anhang erklärt grundlegende Formalismen zur Thematik.Springer Spektrum in Springer Science + Business Media, Tiergartenstr. 15-17, 69121 Heidelberg 412 pp. Deutsch.
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ISBN 10: 3662667223 ISBN 13: 9783662667224
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Taschenbuch. Condition: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Das Buch wendet sich an alle, egal ob im Studium, in technischen Berufen, oder in der Wissenschaft, die die sich für die analytische Transmissionselektronenmikroskopie interessieren und einen Überblick über diese Methode erhalten möchten. Insbesondere betrifft dies Personen, die an einem Transmissionselektronenmikroskop arbeiten wollen oder müssen, die aber noch keine spezielle elektronenmikroskopische Ausbildung durchlaufen haben. Das Buch basiert auf den Erfahrungen der Autoren bei der Unterrichtung von Studierenden, Promovierenden und in technischen Berufen Tätigen. Der Überblick über die analytische Transmissionselektronenmikroskopie umfasst die Schwerpunkte Optische Abbildung, Elektronenwellen, magnetische Linsen, Abbildungsfehler, Aufbau eines Transmissionselektronenmikroskops, Präparation dünner Proben, Justage des Mikroskops, Elektronenbeugung, Kontrastentstehung, Höchstauflösungselektronenmikroskopie, Rastertransmissionselektronenmikroskopie sowie Analytik mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie und Elektronenenergieverlust-Spektroskopie. Ein mathematischer Anhang erklärt grundlegende Formalismen zur Thematik.