Reduzierung der Testzeit während des Designs für Testbarkeit : ASIC-Entwurf

Language: German

Published by Verlag Unser Wissen, 2022

6204420178 / 9786204420172

  • Softcover
  • New
See all details

Seller: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermanyAHA-BUCH GmbH

5-star seller

AbeBooks seller since August 14, 2006

View this seller's items
Softcover

Condition: New

£ 38.85

£ 51.99 shipping 
Ships from Germany to U.S.A.

Quantity: 1 available

Add to basket
Free 30-day returns

Item description from seller

nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Da die VLSI-Technologie ständig auf kleinere Technologieknoten schrumpft, benötigen wir eine effiziente Testtechnik. Zuverlässigkeit und Testbarkeit sind die wichtigsten Parameter beim heutigen VLSI-Design. Die Verkürzung der Testzeit ist eine große Herausforderung bei der scanbasierten DFT (oder dem Test), da die Sequenz, wenn sie auf eine digitale Schaltung angewendet wird, es automatischen Testgeräten ermöglicht, zwischen dem korrekten Schaltungsverhalten und dem fehlerhaften Schaltungsverhalten zu unterscheiden, das durch Defekte verursacht wird. ATE-Maschinen sind sehr teuer, d.h. (i) eine größere Anzahl von Testmustern erfordert mehr Zeit für die Ausführung, was zu höheren Kosten führt. (ii) mehr Datenarchitektur für kosteneffektive Tests. Ein größeres Mustervolumen erfordert also mehr Speicherkapazität. Ein größeres Mustervolumen erfordert auch mehr Zeit für den Scanvorgang im DUT. Der DFT-Compiler von Synopsys wird zur Erstellung des verifizierten Scan-Designs verwendet. Das ATPG-Tool generiert Vektoren, die das Volumen erkennen können, das mehr Speicherplatz benötigt, was wiederum zu höheren Kosten führt. Das ATPG-Tool generiert später einen Statistikbericht, der uns Informationen zur Fehlerkategorie liefert, die wir interpretieren müssen, um Abdeckungsprobleme zu beheben. Hauptaugenmerk liegt auf der Verbesserung der Testzeit durch die Neuanordnung der Scan-Zellen.

Seller Inventory # 9786204420172

Title
Reduzierung der Testzeit während des Designs für Testbarkeit : ASIC-Entwurf
Author
Yogeshkumar Parmar
Publisher
Verlag Unser Wissen
Publication year
2022
Condition
Neu
Binding
Taschenbuch
Language
German
ISBN 10
6204420178
ISBN 13
9786204420172
Item weight
102 grams
Dimensions
220x150x4 mm

AHA-BUCH GmbH

Einbeck, Germany

5-star seller

AbeBooks seller since August 14, 2006

Shipping rates from Germany to U.S.A.

Item30 to 40 business days7 to 14 business days
First item£ 51.99£ 60.58
Delivery times are set by sellers and vary by carrier and location. Orders passing through Customs may face delays and buyers are responsible for any associated duties or fees. Sellers may contact you regarding additional charges to cover any increased costs to ship your items.

Payment methods

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Bank Wire Transfer
  • Check
  • Paypal

Store description

Das Unternehmen AHA-BUCH GmbH: Seit der Gründung von AHA-BUCH im Juli 2005 ist unser Hauptziel, zufriedenen Kunden so schnell und so preisgünstig wie möglich ihren Bücherwunsch zu erfüllen. Unsere Firma beschäftigt 16 Mitarbeiter, die nur ein Ziel kennen: den Kunden und seine Wünsche! Auf über 3700 m2 Fläche haben wir über 100.000 Bücher, Modernes Antiquariat und Spiele auf Lager.

Specialty

Kinderbücher & Kinderhör Casetten, German Books, Software, Natur & Tiere, Ratgeber, Sachbücher, Englische Bücher, Medizin & Gesundheit, Universität & Studium

Seller's business information

AHA-BUCH GmbH

Garlebsen 48
Einbeck, Germany 37574