1st ed. 21 x 24 cm. 808 pages. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband besto�en, daher M�ngelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch. Seller Inventory # 6394VB

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Bibliographic Details

Title: VLSI Test Principles and Architectures: ...

Publisher: Morgan Kaufmann.

Publication Date: 2006

Binding: Hardcover

Edition: 1st Edition

About this title

Synopsis:

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.

Most up-to-date coverage of design for testability.
Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books.
Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures.

About the Authors:

Laung-Terng Wang, Ph.D., is founder, chairman, and chief executive officer of SynTest Technologies, CA. He received his EE Ph.D. degree from Stanford University. A Fellow of the IEEE, he holds 18 U.S. Patents and 12 European Patents, and has co-authored/co-edited two internationally used DFT textbooks- VLSI Test Principles and Architectures (2006) and System-on-Chip Test Architectures (2007).

Kwang-Ting (Tim) Cheng, Ph.D., is a Professor and Chair of the Electrical and Computer Engineering Department at the University of California, Berkeley. A Fellow of the IEEE, he has published over 300 technical papers, co-authored three books, and holds 11 U.S. Patents.

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Das Antiquariat im Hufelandhaus geh�rt zu den groessten wissenschaftlichen Antiquariaten in Europa. Wir sind als Mitglied des Verbandes Deutscher Antiquare regelm�ssig auf Antiquariatsmessen vertreten. Der umfangreiche Bestand, ca. 40.000 B�cher, hat seinen Schwerpunkt in der Medizin des 19. Jahrhunderts. J�hrlich erscheinen 8-10 Antiquariatskataloge zu einzelnen Sachgebieten. Diese Kataloge stellen jeweils nur eine Auswahl aus unseren Buchbest�nden dar. Desweiteren erscheint j�hrlich der Preiskatalog mit den zur�ckliegenden Jahrg�ngen/Back Volumes der Zeitschriften des wissenschaftlichen Springer-Verlages. Wir sind jederzeit am Ankauf von Bibliotheken und Einzelwerken interessiert. Auf Wunsch erfolgt eine Besichtigung vor Ort. Antiquariat im Hufelandhaus GmbH HRB 80262 B, Amtsgericht Berlin-Charlottenburg Ust.Id.Nr. DE 222395865

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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover)).

Wang, Laung-Terng/Wu, Cheng-Wen/Wen, Xiaoqing

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