Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology

S. J. B. Reed

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Language: English

Published by Cambridge University Press, 2010

052114230X / 9780521142304

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: Este libro, actualizado para cubrir los desarrollos recientes, abarca las técnicas estrechamente relacionadas del análisis de microsonda electrónica (EMPA) y la microscopía electrónica de barrido (SEM) específicamente desde un punto de vista geológico. Los temas tratados incluyen: principios de las interacciones electrón-blanco, instrumentación de haz de electrones, espectrometría de rayos X, principios generales de la formación de imágenes SEM, producción de 'mapas' de rayos X que muestran distribuciones elementales, procedimientos para el análisis cualitativo y cuantitativo de rayos X (tanto de dispersión de energía como de dispersión de longitud de onda), el uso de 'verdaderas' microsondas electrónicas y SEM equipados con espectrómetros de rayos X, y asuntos prácticos como la preparación de muestras y el tratamiento de resultados. Se hace hincapié en los aspectos geológicos no mencionados en libros similares dirigidos a un público más general. El libro evita detalles técnicos innecesarios para ser fácilmente accesible, y forma un texto actualizado sobre EMPA y SEM para investigadores geológicos de postgrado y postdoctorado, así como para aquellos que trabajan en laboratorios industriales. EAN: 9780521142304 Tipo: Libros Categoría: Ciencias Título: Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology Autor: S. J. B. Reed Idioma: en Páginas: 212 Formato: Tapa blanda.…

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Title
Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology
Author
S. J. B. Reed
Publisher
Cambridge University Press
Publication year
2010
Condition
Very Good
Binding
Soft cover
Language
English
ISBN 10
052114230X
ISBN 13
9780521142304
Edition
2nd Edition

Hamelyn

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