Conceptions VLSI tolérantes aux variations de processus: Conceptions de circuits logiques dynamiques CMOS hautement robustes et tolérantes aux variations de processus - Softcover
Synopsis
Les portes dynamiques constituent un excellent choix pour la conception de modules haute performance dans les microprocesseurs modernes. Leur seule limite réside dans leur marge de bruit relativement faible par rapport à celle des portes CMOS standard. Traditionnellement, ce problème a été résolu en utilisant un circuit de maintien pMOS qui compense le courant de fuite du réseau nMOS de mise à la masse. Dans les nœuds technologiques antérieurs, le circuit de maintien pouvait améliorer la fiabilité des portes dynamiques avec une perte de performance mineure. Cependant, les tendances à la miniaturisation agressive de la technologie CMOS, associées à des niveaux croissants de variations de processus, ont réduit l'efficacité de l'approche traditionnelle par circuit de maintien. Ce problème est plus grave dans les portes dynamiques à large fan-in en raison du grand nombre de dispositifs nMOS présentant des fuites connectés au nœud dynamique. Dans ce travail, une porte OU dynamique à large fan-in tolérante aux variations de processus est proposée, avec deux nouvelles conceptions de circuits de maintien capables de réduire la contention entre le circuit de maintien et le PDN et, par conséquent, de réduire la dissipation de puissance et le retard.
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Conceptions VLSI tolérantes aux variations de processus
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ISBN 10: 6209965296
ISBN 13: 9786209965296
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Conceptions VLSI tolrantes aux variations de processus (Paperback)
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Paperback. Condition: new. Paperback. Les portes dynamiques constituent un excellent choix pour la conception de modules haute performance dans les microprocesseurs modernes. Leur seule limite reside dans leur marge de bruit relativement faible par rapport a celle des portes CMOS standard. Traditionnellement, ce probleme a ete resolu en utilisant un circuit de maintien pMOS qui compense le courant de fuite du reseau nMOS de mise a la masse. Dans les noeuds technologiques anterieurs, le circuit de maintien pouvait ameliorer la fiabilite des portes dynamiques avec une perte de performance mineure. Cependant, les tendances a la miniaturisation agressive de la technologie CMOS, associees a des niveaux croissants de variations de processus, ont reduit l'efficacite de l'approche traditionnelle par circuit de maintien. Ce probleme est plus grave dans les portes dynamiques a large fan-in en raison du grand nombre de dispositifs nMOS presentant des fuites connectes au noeud dynamique. Dans ce travail, une porte OU dynamique a large fan-in tolerante aux variations de processus est proposee, avec deux nouvelles conceptions de circuits de maintien capables de reduire la contention entre le circuit de maintien et le PDN et, par consequent, de reduire la dissipation de puissance et le retard. This item is printed on demand. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. Seller Inventory # 9786209965296
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Conceptions VLSI tol?rantes aux variations de processus (French Edition)
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Conceptions VLSI tol?rantes aux variations de processus (French Edition)
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Conceptions VLSI tolrantes aux variations de processus (Paperback)
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Paperback. Condition: new. Paperback. Les portes dynamiques constituent un excellent choix pour la conception de modules haute performance dans les microprocesseurs modernes. Leur seule limite reside dans leur marge de bruit relativement faible par rapport a celle des portes CMOS standard. Traditionnellement, ce probleme a ete resolu en utilisant un circuit de maintien pMOS qui compense le courant de fuite du reseau nMOS de mise a la masse. Dans les noeuds technologiques anterieurs, le circuit de maintien pouvait ameliorer la fiabilite des portes dynamiques avec une perte de performance mineure. Cependant, les tendances a la miniaturisation agressive de la technologie CMOS, associees a des niveaux croissants de variations de processus, ont reduit l'efficacite de l'approche traditionnelle par circuit de maintien. Ce probleme est plus grave dans les portes dynamiques a large fan-in en raison du grand nombre de dispositifs nMOS presentant des fuites connectes au noeud dynamique. Dans ce travail, une porte OU dynamique a large fan-in tolerante aux variations de processus est proposee, avec deux nouvelles conceptions de circuits de maintien capables de reduire la contention entre le circuit de maintien et le PDN et, par consequent, de reduire la dissipation de puissance et le retard. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability. Seller Inventory # 9786209965296
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Conceptions VLSI tolérantes aux variations de processus
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Conceptions VLSI tol?rantes aux variations de processus (French Edition)
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Conceptions VLSI tolérantes aux variations de processus : Conceptions de circuits logiques dynamiques CMOS hautement robustes et tolérantes aux variations de processus
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Conceptions VLSI tolérantes aux variations de processus | Conceptions de circuits logiques dynamiques CMOS hautement robustes et tolérantes aux variations de processus
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Taschenbuch. Condition: Neu. Conceptions VLSI tolérantes aux variations de processus | Conceptions de circuits logiques dynamiques CMOS hautement robustes et tolérantes aux variations de processus | Vikas Mahor | Taschenbuch | Französisch | 2026 | Editions Notre Savoir | EAN 9786209965296 | Verantwortliche Person für die EU: SIA OmniScriptum Publishing, Brivibas Gatve 197, 1039 RIGA, LETTLAND, customerservice[at]vdm-vsg[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand. Seller Inventory # 135181300