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Examen de quelques algorithmes de détection de caractéristiques locales - Softcover

 
9786207393596: Examen de quelques algorithmes de détection de caractéristiques locales

Synopsis

L'intelligence artificielle et la reconnaissance faciale gagnant en importance dans les applications, les techniques de détection des caractéristiques locales sont de plus en plus utilisées. De nombreux algorithmes de détection des caractéristiques locales ont été développés au cours des dernières décennies. Le choix de l'algorithme le plus approprié pour une application est une tâche difficile. Ce livre passe en revue certains algorithmes de détection des caractéristiques locales et aide à la sélection des algorithmes dans les applications.

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  • PublisherEditions Notre Savoir
  • Publication date2024
  • ISBN 10 6207393597
  • ISBN 13 9786207393596
  • BindingPaperback
  • LanguageFrench
  • Number of pages88

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John Zhang
Published by Editions Notre Savoir Apr 2024, 2024
ISBN 10: 6207393597 ISBN 13: 9786207393596
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Published by Editions Notre Savoir, 2024
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Zhang, John|Sun, Tao
ISBN 10: 6207393597 ISBN 13: 9786207393596
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John Zhang
Published by Editions Notre Savoir Apr 2024, 2024
ISBN 10: 6207393597 ISBN 13: 9786207393596
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Taschenbuch. Condition: Neu. Neuware -L'intelligence artificielle et la reconnaissance faciale gagnant en importance dans les applications, les techniques de détection des caractéristiques locales sont de plus en plus utilisées. De nombreux algorithmes de détection des caractéristiques locales ont été développés au cours des dernières décennies. Le choix de l'algorithme le plus approprié pour une application est une tâche difficile. Ce livre passe en revue certains algorithmes de détection des caractéristiques locales et aide à la sélection des algorithmes dans les applications.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 88 pp. Französisch. Seller Inventory # 9786207393596

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