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Published by Springer, 1987
ISBN 10: 354017592XISBN 13: 9783540175926
Seller: HPB-Red, Dallas, TX, U.S.A.
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paperback. Condition: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!.
Published by Springer, 1985
ISBN 10: 3540158804ISBN 13: 9783540158806
Seller: booksXpress, Bayonne, NJ, U.S.A.
Book Print on Demand
Soft Cover. Condition: new. This item is printed on demand.
Published by Springer, 1987
ISBN 10: 354017592XISBN 13: 9783540175926
Seller: booksXpress, Bayonne, NJ, U.S.A.
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Soft Cover. Condition: new.
Published by Springer Berlin Heidelberg, 1985
ISBN 10: 3540158804ISBN 13: 9783540158806
Seller: Buchpark, Trebbin, Germany
Book
Condition: Sehr gut. Zustand: Sehr gut - Gepflegter, sauberer Zustand. Außen: Klebereste / Klebespuren. Aus der Auflösung einer renommierten Bibliothek. Kann Stempel beinhalten. | Seiten: 228 | Sprache: Deutsch.
Published by Springer Berlin Heidelberg, 1985
ISBN 10: 3540158804ISBN 13: 9783540158806
Seller: Buchpark, Trebbin, Germany
Book
Condition: Gut. Zustand: Gut - Gebrauchs- und Lagerspuren. Außen: vergilbt, angestoßen, Klebereste / Klebespuren. Aus der Auflösung einer renommierten Bibliothek. Kann Stempel beinhalten. | Seiten: 228 | Sprache: Deutsch.
Published by Springer Verlag, 1985
ISBN 10: 3540158804ISBN 13: 9783540158806
Seller: Revaluation Books, Exeter, United Kingdom
Book
Paperback. Condition: Brand New. 224 pages. German language. 9.60x6.69x0.47 inches. In Stock.
Published by Springer, 1987
ISBN 10: 354017592XISBN 13: 9783540175926
Seller: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Book
Condition: New.
Published by Springer Berlin Heidelberg, 1985
ISBN 10: 3540158804ISBN 13: 9783540158806
Seller: moluna, Greven, Germany
Book Print on Demand
Condition: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. 1 Einfuehrung in die Elektronenmikroskopie (EM).- 2 Methoden fuer die TEM.- 3 Methoden fuer die REM.- 4 Methoden fuer die Bildauswertung.- Appendix: Puffer in der EM.Als im Jahre 1939 in Berlin im Laboratorium fuer Elektronenoptik der Siemens & Halske AG die.
Published by Springer Berlin Heidelberg, 1987
ISBN 10: 354017592XISBN 13: 9783540175926
Seller: moluna, Greven, Germany
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Condition: New.